Stage mikrométerek kalibráló mérlegek rácsok
Termékleírás
A színpadi mikrométereket, kalibrációs vonalzókat és rácsokat általában a mikroszkópiában és más képalkotó alkalmazásokban használják, hogy szabványos referenciaskálákat biztosítsanak a méréshez és kalibráláshoz. Ezeket az eszközöket általában közvetlenül a mikroszkóp tárgyasztalán helyezik el, és a rendszer nagyításának és optikai tulajdonságainak jellemzésére használják.
A színpadi mikrométer egy kis üveglemez, amely ismert térközökben pontosan felírt vonalak rácsát tartalmazza. A rácsokat gyakran használják a mikroszkópok nagyításának kalibrálására, hogy lehetővé tegyék a minták pontos méretének és távolságának mérését.
A kalibrációs vonalzók és rácsok hasonlóak a színpadi mikrométerekhez, mivel egy rácsot vagy más, pontosan körvonalazott vonalmintát tartalmaznak. Készülhetnek azonban más anyagokból, például fémből vagy műanyagból, és eltérő méretűek és formájúak.
Ezek a kalibráló eszközök kritikusak a minták mikroszkóp alatti pontos méréséhez. Egy ismert referenciaskála használatával a kutatók biztosíthatják méréseik pontosságát és megbízhatóságát. Általában olyan területeken használják őket, mint a biológia, az anyagtudomány és az elektronika a minták méretének, alakjának és egyéb tulajdonságainak mérésére.
Bemutatkozik a Stage Micrometer Calibration Scale Grids – egy innovatív és megbízható megoldás a pontos mérések biztosítására számos iparágban. A különféle alkalmazások széles skálájával ez a hihetetlenül sokoldalú termék páratlan pontosságot és kényelmet kínál, így a mikroszkópia, képalkotás és biológia szakemberek számára elengedhetetlen eszköz.
A rendszer középpontjában a színpadi mikrométer áll, amely fokozatos referenciapontokat biztosít a mérőeszközök, például mikroszkópok és kamerák kalibrálásához. Ezek a tartós, kiváló minőségű mikrométerek többféle méretben és stílusban kaphatók, hogy megfeleljenek a különböző iparágak igényeinek, az egyszerű egysoros mérlegektől a több kereszttel és körrel rendelkező összetett rácsokig. A pontosság érdekében minden mikrométer lézerrel van maratva, és nagy kontrasztú kialakítással rendelkezik a könnyű használat érdekében.
A rendszer másik fontos jellemzője a kalibrációs skála. Ezek a gondosan megtervezett mérlegek vizuális referenciaként szolgálnak a mérésekhez, és alapvető eszközt jelentenek a mérőberendezések, például a mikroszkóp és az XY transzlációs fokozatok kalibrálásához. A mérlegek kiváló minőségű anyagokból készülnek a tartósság és a hosszú élettartam érdekében, és különböző méretekben kaphatók, hogy megfeleljenek a különböző alkalmazások követelményeinek.
Végül a GRIDS fontos referenciapontot biztosít a precíziós mérésekhez. Ezek a rácsok számos különböző mintázattal rendelkeznek, az egyszerű rácsoktól a bonyolultabb keresztekig és körökig, vizuális referenciaként szolgálva a pontos mérésekhez. Mindegyik rácsot a tartósságra tervezték, nagy kontrasztú, lézerrel maratott mintával a kiváló pontosság érdekében.
A STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS rendszer egyik fő előnye a kényelem és a sokoldalúság. A különféle mikrométerek, mérlegek és rácsok széles választékával a felhasználók kiválaszthatják az adott alkalmazási területükhöz legmegfelelőbb kombinációt. Akár laboratóriumban, akár terepen vagy gyárban van, a rendszer a szakemberek által megkövetelt pontosságot és megbízhatóságot biztosítja.
Ha tehát megbízható, kiváló minőségű megoldást keres mérési igényeire, ne keressen tovább, mint a Stage Micrometer Calibration Ruler Grids. Kivételes pontosságával, tartósságával és kényelmével ez a rendszer minden bizonnyal az Ön professzionális arzenáljának értékes eszközévé válik.
Műszaki adatok
Szubsztrát | B270 |
Dimenziótűrés | -0,1 mm |
Vastagság tolerancia | ±0,05 mm |
Felületi síkosság | 3(1) 632,8 nm-nél |
Felületi minőség | 40/20 |
Vonalszélesség | 0,1 mm és 0,05 mm |
Élek | Föld, 0,3 mm max. Teljes szélességű ferde |
Tiszta rekesznyílás | 90% |
Párhuzamosság | <45” |
Bevonat
| Nagy optikai sűrűségű, átlátszatlan króm, fülek<0,01% @ látható hullámhossz |
Átlátszó terület, AR R<0,35%@látható hullámhossz |